• 紫外線加速老化試驗箱的養(yǎng)護..
• 介紹氙燈耐氣候老化試驗機的..
• 紫外線老化試驗箱常見故障
• 冷熱沖擊試驗箱暫停使用要做..
• 紫外光老化試驗箱使用要求有..
• 紫外光老化試驗箱多年來的弊..
• 產(chǎn)品分類品牌冷熱沖擊箱
• 濕熱試驗箱品牌立足要數(shù)量更..
• 什么原因?qū)е潞銣睾銤裨囼炏?.
• 淺談高低溫試驗箱行業(yè)現(xiàn)狀及..

可靠性試驗中壽命與應力模型的廣泛用途：
    壽命與應力模型廣泛應用于各種可靠性試驗中，尤其對元 器件、介質(zhì)材料的壽命試驗。下面舉例說明其應用情況：
(1)阿列尼烏斯模型的應用
    這個模型廣泛地應用于電子元器件等的加速壽命試驗中， 例如，對顯象管進行加速壽命試驗，通過提高燈絲電壓，從而 提高陰極的溫度，得出壽命的對數(shù)與溫度的倒數(shù)符合直線關 系，其規(guī)律性能很好地由阿列尼烏斯模型來描述。如果工藝條 件成熟，管內(nèi)的真空度保持良好，則顯象管的壽命決定于陰極 的壽命。如果陰極處于良好的激活狀態(tài)下，則在整個壽命過程 中，其盈余鋇的損耗量與生成量應保持平衡，當這平衡被破壞 后，陰極壽命便告終。圖卜13是顯象管的燈絲電壓為7V、 7.5V、8V (明極溫度相應為 1145K、1202.5K、123J.5K)下 進行加速壽命試驗的結(jié)果。利用阿列尼烏斯模型描述顯象管加 速壽命試驗，其外推值與在正常條件下進行壽命試驗的結(jié)果相 比，誤差僅在2%以內(nèi)。.
表1-5是顯象管的加速試驗結(jié)果與常溫條件下試驗結(jié)果的
比較。
(2)愛林模型的應用
    半導體器件的芯片是通過金絲或鋁絲互連而引出的。如果半導體器件是在高溫高濕下工作，則A卜Au或A1-A1的接觸點 極易剝離；或在潮濕的環(huán)境中，由于腐蝕而產(chǎn)生開路、短路、 漏電流增加等失效。其機理是由于在接點處沾上了不潔物而形 成電位分布，從而產(chǎn)生了電化學反應。對這種電化學反應與產(chǎn) 品壽命的關系，可以通過愛林模型來描述。
(3）-5次方10度法則的應用
 應用這個法則的例子很多。